塑封冷熱沖擊試驗箱失效現象

冷熱沖擊試驗箱操作簡單，但電子元件有時會發生一些故障，故障遷移現象一般分為三類：離子遷移、電遷移和應力遷移。
塑封冷熱沖擊試驗箱功能：
1、可在預啟動時控制在自動提前預熱，預冷待機,并可以選擇起始位置，從高溫或低溫開始循環或沖擊，其他已設定的循環次數和自動除霜等功能
2，具有全自動，高精度系統回路，任何機械動作，完全由P.L.C鎖定處理，溫度控制精度高，所有P.I.D自動演算控制。
3、出風口與回風口感知器檢知控制，風門開關時間為10秒，熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內完成。
冷熱沖擊試驗箱塑性破壞準則的影響：
1、集成電路芯片和大量的電子元件的組件集成在硅晶片上。由于鋁和鋁合金的價格低廉，加工工藝簡單，所以通常作為集成電路的金屬線。
2、從進行集成電路塑封工序開始，水氣便會通過環氧樹脂滲入引起鋁金屬導線產生腐蝕進而產生開路現象，成為品質工程最為頭痛的問題。人們雖然通過各種改善包括采用不同環氧樹脂材料、改進塑封技術和提高非活性塑封膜為提高產品質量進行了各種努力，但是隨著日新月異的半導體電子器件小型化發展，塑封鋁金屬導線腐蝕問題至今仍然是電子行業非常重要的技術課題。更多詳情咨詢:18925571822  QQ:2099556812   葉梓晴